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電容器老化測試的標(biāo)準(zhǔn)和方法
發(fā)表時間:2023-05-23 11:05:24
電容器是一種用于儲存電荷的器件，由兩個相互靠近的導(dǎo)體極板之間夾著一層不導(dǎo)電的絕緣介質(zhì)構(gòu)成。當(dāng)在電容器的極板上施加電壓時，電容器會儲存電荷。電容器的電容量表示為一個極板上的電荷量與兩個極板之間電壓的比值，單位為法拉（F）。在電路圖中，電容器通常用字母C表示。電容器在電路中的調(diào)諧、旁路、耦合和濾波等方面起著重要作用。老化測試是用于篩選電容器可靠性水平和質(zhì)量的方法之一。


以下是有關(guān)電容器老化測試的相關(guān)信息：

目的：

電容器老化測試的目的是評估電容器隨著時間推移而產(chǎn)生的性能變化，并考察其使用的可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗，第2部分》；

2. IEC 60068-2-2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境測試，第2-2部分：試驗，試驗B：干熱》；

3. MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實驗室試驗》。

方法：

1. 在常溫下施加額定電壓，持續(xù)12分鐘，并監(jiān)測漏電流。漏電流的限制值根據(jù)電容器的額定電壓（UR）來確定：當(dāng)UR≤100V時，漏電流不超過0.01CV或3μA（取較大值）；當(dāng)UR＞100V時，漏電流不超過0.1CV+10μA。

2. 在高溫（85℃）下施加額定電壓，連續(xù)測試24小時，并記錄漏電流的波動情況。

3. 每5分鐘記錄一次數(shù)據(jù)，要求老化過程中漏電流無明顯波動，并且保持在初始極限值的10倍以下。

4. 恢復(fù)至常溫，保持12分鐘。

5. 監(jiān)測漏電流、損耗角和絕緣電阻，確保它們符合常溫下的標(biāo)準(zhǔn)要求。

以上是電容器老化測試的一般標(biāo)準(zhǔn)和方法。具體的測試過程和要求可能會因不同的應(yīng)用領(lǐng)域、產(chǎn)品規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)而有所不同。在進(jìn)行具體的電容器老化測試時，應(yīng)參考適用的標(biāo)準(zhǔn)和相關(guān)文獻(xiàn)，并遵循正確的實驗操作方法。