1.閉合操作電壓試驗(yàn):

閉合操作電壓不高于控制電路額定電壓值的 70%，不低于控制電路額定電壓值的 30%。

負(fù)荷開關(guān)處于斷開位置，對(duì)負(fù)荷開關(guān)控制電路施加階躍的 20%控制電路額定電壓值，按照一定的步長(zhǎng)增加電壓，直至負(fù)荷開關(guān)轉(zhuǎn)換到閉合位置，則此電壓值即為負(fù)荷開關(guān)的閉合操作電壓，應(yīng)滿足 5.2.2的要求。每個(gè)電壓等級(jí)步長(zhǎng)宜為 0.1V，持續(xù)時(shí)間應(yīng)大于負(fù)荷開關(guān)的閉合時(shí)間。

裝置輸出電壓：0~300.0V連續(xù)可調(diào)，分辨率0.1V，自動(dòng)升壓。

2.斷開操作電壓試驗(yàn):

閉合操作電壓不應(yīng)高于控制電路額定電壓值的 70%，不應(yīng)低于控制電路額定電壓值的 30%。

負(fù)荷開關(guān)處于斷開位置，對(duì)負(fù)荷開關(guān)控制電路施加階躍的 20%控制電路額定電壓值，按照一定的步長(zhǎng)增加電壓，直至負(fù)荷開關(guān)轉(zhuǎn)換到閉合位置，則此電壓值即為負(fù)荷開關(guān)的閉合操作電壓，應(yīng)滿足 5.2.2的要求。每個(gè)電壓等級(jí)步長(zhǎng)宜為 0.1V，持續(xù)時(shí)間應(yīng)大于負(fù)荷開關(guān)的閉合時(shí)間。

裝置輸出電壓：0~300.0V連續(xù)可調(diào)，分辨率0.1V，自動(dòng)降壓。

3.閉合時(shí)間試驗(yàn)：

單相電磁式負(fù)荷開關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 20ms，三相電磁式負(fù)荷開關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 30ms；單相電機(jī)式負(fù)荷開關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 90ms，三相電機(jī)式負(fù)荷開關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 100ms。

對(duì)處于斷開位置的負(fù)荷開關(guān)，對(duì)線圈施加額定電壓，測(cè)量負(fù)荷開關(guān)觸點(diǎn)從施加額定電壓的瞬間到觸點(diǎn)可靠動(dòng)作為止的時(shí)間，應(yīng)滿足 5.2.5 的要求；

閉合測(cè)量時(shí)間：0~9999ms,分辨率1ms

4.斷開時(shí)間試驗(yàn)：

單相電磁式負(fù)荷開關(guān)的斷開時(shí)間應(yīng)小于 20ms；三相電磁式負(fù)荷開關(guān)的斷開時(shí)間應(yīng)小于 30ms；單相電機(jī)式負(fù)荷開關(guān)的斷開時(shí)間應(yīng)小于 90ms，三相電機(jī)式負(fù)荷開關(guān)的斷開時(shí)間應(yīng)小于 100ms。

對(duì)處于閉合位置的負(fù)荷開關(guān)，對(duì)線圈施加額定電壓，測(cè)量負(fù)荷開關(guān)觸點(diǎn)從施加額定電壓的瞬間到觸點(diǎn)分?jǐn)酁橹沟臅r(shí)間，應(yīng)滿足 5.2.5 的要求;

斷開測(cè)量時(shí)間：0~9999ms,分辨率1ms

5.接觸電阻試驗(yàn)：

電磁式負(fù)荷開關(guān)的接觸電阻應(yīng)小于 1.5m?；電機(jī)式負(fù)荷開關(guān)的接觸電阻應(yīng)小于 1.0m?。

按照 GB/T 14598.1—2002 的試驗(yàn)方法，對(duì)負(fù)荷開關(guān)的主電路施加額定電流，在 10s 內(nèi)測(cè)量負(fù)荷開關(guān)的主電路引出端處的接觸壓降，根據(jù)歐姆定律計(jì)算觸點(diǎn)的接觸電阻。測(cè)量接觸壓降的位置應(yīng)不大于主電路引出端根部 5mm 的距離。

接觸電阻應(yīng)滿足 5.2.6 的要求。

電阻測(cè)量范圍：0.001~100m?

分辨率：0.001 m?

6.短路電流承載能力試驗(yàn)：

負(fù)荷開關(guān)應(yīng)經(jīng)受 IEC 62055—31—2005 中 C.6 的 UC2 試驗(yàn)。2.5kA 試驗(yàn)后，控制電路施加額定電壓，負(fù)荷開關(guān)應(yīng)能可靠動(dòng)作，介電性能滿足 5.2.7 的要求。

4.5kA 試驗(yàn)后，負(fù)荷開關(guān)不應(yīng)爆炸，外觀無損傷。

按照 IEC 62055—31: 2005 中的 C.6 的要求進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)分為兩組：

a） 4.5kA 試驗(yàn)：

1） 試驗(yàn)前，負(fù)荷開關(guān)主電路應(yīng)在額定電流條件下操作 3 次，操作頻率為 5s 閉合、5s 斷開；

2） 負(fù)荷開關(guān)處于閉合位置，主電路施加 4.5kA 電流、電壓5V,功率因數(shù)為 1。持續(xù)時(shí)間 10ms且第一個(gè)過零點(diǎn)時(shí)停止試驗(yàn)，共進(jìn)行 3 次。每次試驗(yàn)間隔應(yīng)大于 1min，應(yīng)滿足 5.5.2的要求。

b） 2.5kA 試驗(yàn)：

1） 負(fù)荷開關(guān)處于閉合位置，主電路施加 2.5kA 電流、電壓5V,功率因數(shù)為 1。持續(xù)時(shí)間10ms，且第一個(gè)過零時(shí)停止試驗(yàn)，共進(jìn)行 3 次。每次試驗(yàn)間隔大于 1min；

2） 每次試驗(yàn)之后進(jìn)行負(fù)荷開關(guān)操作測(cè)試，即給負(fù)荷開關(guān)的控制電路施加額定電壓（循環(huán)三次），負(fù)荷開關(guān)應(yīng)能長(zhǎng)長(zhǎng)動(dòng)作，應(yīng)滿足 5.5.2 的要求。

裝置輸出AC電流2KA~5KA可調(diào)電流，分辨率1A；

裝置輸出AC電壓0~5V；

測(cè)試時(shí)間：10ms，

測(cè)試次數(shù)：3測(cè)試

間隔時(shí)間：1~99min

7.故障電流承載能力試驗(yàn)：

負(fù)荷開關(guān)應(yīng)經(jīng)受 IEC62055—31: 2005 中 C.5 的 UC2 試驗(yàn)。試驗(yàn)后，控制電路施加額定電壓，負(fù)荷開關(guān)應(yīng)能可靠動(dòng)作，觸頭無粘結(jié)、焊死現(xiàn)象，介電性能滿足 5.2.7 的要求。

按照 IEC 62055—31—2005 中的 C.5 的要求進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)前，負(fù)荷開關(guān)處于斷開位置，對(duì)控制電路施加額定電壓，進(jìn)行故障電流接通能力試驗(yàn)。試驗(yàn)后，應(yīng)滿足 5.5.3 的要求。

試驗(yàn)條件為：

a） 試驗(yàn)電壓：5V；

b） 試驗(yàn)電流：2.5kA；

c） 試驗(yàn)次數(shù)： 3 次；

d） 試驗(yàn)間隔：≥1min。

裝置輸出AC電流2KA~5KA可調(diào)電流，分辨率1A；

裝置輸出AC電壓0~5V；

測(cè)試時(shí)間：10ms，

測(cè)試次數(shù)：3測(cè)試

間隔時(shí)間：1~99min

8.過負(fù)載耐受能力試驗(yàn)：

負(fù)荷開關(guān)應(yīng)經(jīng)受 1.5 倍額定電流的過負(fù)載試驗(yàn)，試驗(yàn)后外觀無損傷，負(fù)荷開關(guān)不允許有粘死現(xiàn)象，且接觸電阻的增加值應(yīng)小于初始值的 50%，接觸電阻應(yīng)滿足 5.2.6。

按照 GB/T 14048.1—2006 中的 7.2.5 的要求進(jìn)行試驗(yàn)。

對(duì)負(fù)荷開關(guān)的主電路施加 1.5 倍的額定電流、額定電壓，使負(fù)荷開關(guān)進(jìn)行 1s 的閉合操作和 4s 斷開操作，試驗(yàn)時(shí)間 30min。

試驗(yàn)后，負(fù)荷開關(guān)應(yīng)滿足 5.5.4 的要求，介電性能滿足 5.2.7 的要求。

a)試驗(yàn)電壓：330~600V；

b試驗(yàn)電流：0~150A；

裝置輸出AC電流0~150A可調(diào)電流，分辨率1A；

裝置輸出AC電壓330~600V；

測(cè)試接通時(shí)間：1~99s；

測(cè)試斷開時(shí)間：1~99s；

測(cè)試次數(shù)：1~9999次

9.沖擊耐壓試驗(yàn)：

按照 GB/T14048.1—2006 中 8.3.3.4 的要求進(jìn)行試驗(yàn)，負(fù)荷開關(guān)應(yīng)滿足 5.5.1 的要求。試驗(yàn)條件為：

a） 沖擊電壓幅值：6kV；

b） 沖擊電壓波形：1.2/50μs；

c） 沖擊方向及次數(shù)：正向反向各 5 次；

d） 沖擊時(shí)間間隔：1min。

裝置輸出AC脈沖電壓0~6KV，分辨率1A；

脈沖電壓波形：1.2/50μs；

測(cè)試次數(shù)：1~9999次

測(cè)試間隔時(shí)間：1~9999s